|
コバヤシ シンヤ
KOBAYASHI Shinya
小林 真也 所属 松山大学 情報学部 情報学科 職種 教授 |
|
| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2009/08 |
| 形態種別 | 学術論文 |
| 査読 | 査読有り |
| 標題 | An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology |
| 掲載区分 | 国外 |
| 著者・共著者 | Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahashi, S. Kobayashi, and Y. Takamatsu |