コバヤシ　シンヤ   KOBAYASHI Shinya   小林　真也    所属   松山大学  情報学部 情報学科    職種   教授
言語種別	英語
発行・発表の年月	2006/11
形態種別	学術論文
査読	査読有り
標題	Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment
執筆形態	共著
掲載誌名	IEEE 15th Asian Test Symposium
掲載区分	国外
巻・号・頁	E89-D(11)
著者・共著者	Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahashi, S. Kobayashi, and Yuzo Takamatsu